MINITEST 740

簡要描述：

MINITEST 740，MiniTest730|MiniTest720|MiniTest740涂層測厚儀.SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或

更新時間：2024-03-18

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

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產(chǎn)品介紹：

品牌	ElektroPhysik/德國EPK	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進口	應用領(lǐng)域	環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥,綜合

MINITEST 740

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）
精確度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）	30mm		30mm			30mm
測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個讀數(shù)
單值模式下Z大測量速度	每分鐘70個讀數(shù)

無錫駿展儀器有限責任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務,光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標。