Fischerscope X-ray菲希爾測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述：

Fischerscope X-ray菲希爾測(cè)厚儀，配備了全新的DPP+和功能強(qiáng)大的硅漂移探測(cè)器（SDD），這臺(tái)多功能儀器可以提供出色的測(cè)量結(jié)果。

更新時(shí)間：2023-12-06

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合

Fischerscope X-ray菲希爾測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD全能選手

XDV®-SDD 是一款真正的全能型儀器，特別適用于測(cè)量<0.05µm的極薄鍍層和PPM級(jí)范圍內(nèi)的材料分析。配備了全新的DPP+和功能強(qiáng)大的硅漂移探測(cè)器（SDD），這臺(tái)多功能儀器可以提供出色的測(cè)量結(jié)果。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ

XDV®-μ是專為微小結(jié)構(gòu)樣品的精確鍍層厚度測(cè)量和材料分析而開(kāi)發(fā)。多毛細(xì)管光學(xué)器件和 DPP+ 的相互配合使得它能夠在微米級(jí)大小的測(cè)量點(diǎn)上也能得到優(yōu)秀的信號(hào)強(qiáng)度，從而進(jìn)行精準(zhǔn)且高重復(fù)性的測(cè)量。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

XDV®-µ LD是業(yè)界優(yōu)質(zhì)的XRF儀器，適用于連接器和電子行業(yè)的鍍層厚度測(cè)量和材料分析，特別是對(duì)裝配完成的PCB以及形狀復(fù)雜的連接器進(jìn)行測(cè)量。在擁有12mm的測(cè)量距離時(shí)，仍可以實(shí)現(xiàn)最小的測(cè)量點(diǎn)，并具有最高的穩(wěn)定性和信號(hào)強(qiáng)度。體驗(yàn) DPP+ 與多毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)合帶來(lái)的性能提升。